Fast Dynamic Fault Tree Analysis by Model Checking Techniques

Volk, Matthias; Junges, Sebastian (Corresponding author); Katoen, Joost-Pieter

New York, NY : IEEE (2017, 2018)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on industrial informatics
Band: 14
Heft: 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 370-379