Fast Dynamic Fault Tree Analysis by Model Checking Techniques

New York, NY / IEEE (2017, 2018) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on industrial informatics
Band: 14
Ausgabe: 1
Seite(n): 370-379

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Volk, Matthias
Junges, Sebastian
Katoen, Joost-Pieter

Identifikationsnummern